DSpace О системе DSpace
 

DSpace KNAU >
Вісник Харківського національного аграрного університету ім. В.В. Докучаєва >
Вісник.ХНАУ ім. В.В. Докучаєва Серія Біологія Вип.40 >

Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот ресурс: http://hdl.handle.net/123456789/1901

Название: Активність супероксиддисмутази в онтогенезі рослин у нормі і за дії абіотичних стресів
Авторы: Сахно Л. О.
Ключевые слова: антиоксидантна система рослин
супероксиддисмутаза (СОД)
засолення
водний дефіцит
трансгенез
Дата публикации: 2017
Издатель: Вісник Харківського національного аграрного університета ім. В.В. Докучаєва
Библиографическое описание: Сахно Л. О. Активність супероксиддисмутази в онтогенезі рослин у нормі і за дії абіотичних стресів // Вісник Харківського національного аграрного університету. Серія Біологія. – 2017. – Вип. 1 (40). – С. 21-34.
Серия/номер: Біологія;Вип. 1 (40).
Аннотация: Узагальнено відомості щодо ролі ключового ферменту антиоксидантної системи рослин – супероксиддисмутази (СОД) – у процесах росту і розвитку та у забезпеченні толерантності до абіотичних стресів. Показано взаємозв’язок між активністю цього ферменту і особливостями відповіді рослинних тканин на умови культивування in vitro. Продемонстровано можливості трансгенезу у з’ясуванні ролі СОД в адаптації до абіотичних стресів і особливостей її регуляції. Запропоновано використовувати активність СОД для первинного скринінгу рослин на толерантність до сольового стресу та водного дефіциту.
Описание: Стаття опублікована в Віснику Харківського національного аграрного університету. Серія Біологія. – 2017. – Вип. 1 (40)
URI: http://hdl.handle.net/123456789/1901
ISSN: 1992-4917
Располагается в коллекциях:Вісник.ХНАУ ім. В.В. Докучаєва Серія Біологія Вип.40

Файлы этого ресурса:

Файл Описание РазмерФормат
2017.01.021-034.Sakhno.pdf1.22 MBAdobe PDFПросмотреть/Открыть
View Statistics

Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.

 

Valid XHTML 1.0! DSpace Software Copyright © 2002-2005 MIT and Hewlett-Packard - Обратная связь